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澤攸臺式掃描電鏡
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小樣品分析!澤攸電鏡讓微區(qū)研究效率翻倍? 對需要分析小/大樣品的研究者而言,ZEM15不是“湊合用”的工具,而是用“大包容”設計,讓微區(qū)研究從“大海撈針”變成“精準導航”。
更新時間:2026-01-07
產(chǎn)品型號:ZEM15
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更新時間:2026-01-07
產(chǎn)品型號:
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臺階儀-澤攸臺式掃描電鏡 實際操作中掌握一些技巧能顯著提升工作效率。對于表面粗糙的樣品,建議先從較低倍數(shù)開始觀察,找到特征區(qū)域后再提高倍數(shù)。調(diào)節(jié)像散時,可選擇樣品上的孔洞或邊緣作為參考,交替調(diào)節(jié)X、Y方向直至圖像在各個方向都清晰。
更新時間:2026-01-07
產(chǎn)品型號:
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更新時間:2026-01-19
產(chǎn)品型號:
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更新時間:2026-01-19
產(chǎn)品型號:
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澤攸ZEM20掃描顯微鏡附件系統(tǒng)詳解 ZEM20支持豐富的附件系統(tǒng),擴展了其應用范圍。原位實驗附件包括拉伸臺,可在觀察樣品的同時施加拉伸力,實時記錄材料變形和斷裂過程。加熱臺最高工作溫度可達1200℃,配合高溫樣品座,可觀察材料在加熱過程中的相變、燒結等動態(tài)變化。
更新時間:2026-01-19
產(chǎn)品型號:
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