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澤攸科技ZEM15C是一款緊湊型臺式掃描電子顯微鏡，專為材料科學、生命科學、工業(yè)檢測等領域設計。該設備在保持傳統(tǒng)電鏡高分辨率優(yōu)勢的同時，通過優(yōu)化設計實現(xiàn)了操作簡便性和空間效率的平衡。澤攸科技ZEM15C臺式掃描電鏡技術解析與應用

澤攸透射電鏡原位MEMS加熱/電學測量系統(tǒng)，透射電子顯微鏡是提供在較高時間分辨率下得到原子級空間分辨率的實驗手段。

澤攸透射電鏡原位MEMS低溫電學測量系統(tǒng)，是在標配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實現(xiàn)低溫電學測量或全溫區(qū)測量功能。

澤攸透射電鏡原位MEMS液體電化學測量系統(tǒng)，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。實驗中，樣品被密封在很薄氮化硅薄膜覆蓋的液體池內(nèi)，池內(nèi)可以承載一個大氣壓。芯片電極聯(lián)通外接電路，從而在電鏡中搭建一個液體-電化學測試環(huán)境。

澤攸透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測條件。

澤攸透射電鏡原位STM-TEM電學測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元,通過探針對單個納米結(jié)構進行操縱和電學測量